Back-end test and packaging
웨이퍼 테스트
wafer probe test
DraftVersion 0.1.1Updated 2026-10-09
- Definition(Written in Korean)
- 자르기 전 웨이퍼의 다이마다 탐침을 대어 전기적 동작을 시험하고 양품과 불량을 가르는 공정입니다.
- Synonyms
- EDS · 프로브 테스트 · 웨이퍼 소트
- English
- wafer probe test
- Broader term
- 후공정back-end process
- Related terms
- 빈bin웨이퍼 맵wafer map
- Added in version
- 0.1.0
- Permanent URI
https://ontocraft.com/terms/wafer-probe-test
JSON-LD for this term- Citation
- OntoCraft Korean Industrial Term Registry, “웨이퍼 테스트” (wafer probe test), version 0.1.1, https://ontocraft.com/terms/wafer-probe-test, CC BY 4.0.
CC BY 4.0. Source: OntoCraft Korean Industrial Term Registry · License text