품질과 계측
웨이퍼 맵
wafer map
초안버전 0.1.12026-10-09 갱신
- 정의
- 다이별 시험 결과나 결함 위치를 웨이퍼 모양 그대로 그린 그림과 그 데이터입니다. 무늬를 보면 원인 공정을 짐작할 수 있습니다.
- 쓰임 예
- 웨이퍼 맵 데이터는 다이마다 X·Y 좌표와 빈 번호를 담아, 패키징 공정이 양품 다이만 집도록 넘겨집니다.
- 동의어
- 빈 맵 · 맵
- 영어
- wafer map
- 대응 표준
SEMI E142
표준의 이름만 적었습니다. 표준 원문과 대조하지 않았으므로 정의가 표준과 같다는 뜻이 아닙니다.
- 처음 들어온 버전
- 0.1.0
- 고정 주소
https://ontocraft.com/terms/wafer-map
이 용어의 JSON-LD- 인용
- OntoCraft 한국 산업 용어 등록부, 「웨이퍼 맵」(wafer map), 버전 0.1.1, https://ontocraft.com/terms/wafer-map, CC BY 4.0.
CC BY 4.0, 출처: OntoCraft 한국 산업 용어 등록부 · 라이선스 전문