후공정
웨이퍼 테스트
wafer probe test
초안버전 0.1.12026-10-09 갱신
- 정의
- 자르기 전 웨이퍼의 다이마다 탐침을 대어 전기적 동작을 시험하고 양품과 불량을 가르는 공정입니다.
- 동의어
- EDS · 프로브 테스트 · 웨이퍼 소트
- 영어
- wafer probe test
- 상위 용어
- 후공정back-end process
- 관련 용어
- 빈bin웨이퍼 맵wafer map
- 처음 들어온 버전
- 0.1.0
- 고정 주소
https://ontocraft.com/terms/wafer-probe-test
이 용어의 JSON-LD- 인용
- OntoCraft 한국 산업 용어 등록부, 「웨이퍼 테스트」(wafer probe test), 버전 0.1.1, https://ontocraft.com/terms/wafer-probe-test, CC BY 4.0.
CC BY 4.0, 출처: OntoCraft 한국 산업 용어 등록부 · 라이선스 전문